2021哈爾濱工程大學(xué):測(cè)試技術(shù)研究生考試大綱

發(fā)布時(shí)間：2021-01-11 編輯：考研派小莉推薦訪問：

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2021哈爾濱工程大學(xué):測(cè)試技術(shù)研究生考試大綱正文

2021年考試內(nèi)容范圍說明

考試科目代碼：考試科目名稱:測(cè)試技術(shù)

考試內(nèi)容范圍:

一、 X射線分析理論基礎(chǔ)
要求考生熟練掌握X射線物理學(xué)基礎(chǔ)（X射線本質(zhì)、X射線譜、X射線與物質(zhì)相互作用）.
要求考生理解X射線運(yùn)動(dòng)學(xué)衍射理論，能夠運(yùn)用Ewald圖解進(jìn)行衍射分析，會(huì)進(jìn)行衍射強(qiáng)度的計(jì)算，熟悉倒易點(diǎn)陣

二、 X射線衍射方法及衍射分析
要求考生熟練掌握兩種X射線衍射方法（粉末照相、多晶衍射儀法）.
要求考生了解晶體取向的測(cè)定方法及分析步驟.
要求考生能夠進(jìn)行點(diǎn)陣常數(shù)的測(cè)定.
要求考生熟練掌握多晶體物相分析并進(jìn)行相應(yīng)的定量計(jì)算.
要求考生熟練掌握宏觀應(yīng)力的測(cè)定.

三、 TEM分析
要求考生掌握電子與物質(zhì)相互作用理論.
要求考生熟練掌握TEM結(jié)構(gòu)、原理、樣品制備、金屬薄膜的衍射分析（能夠標(biāo)定單晶體的衍射斑點(diǎn)）
四、 SEM分析
1. 要求考生了解掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)和工作原理
2. 要求考生熟練掌握掃描電鏡在材料分析中的應(yīng)用（表界面、斷口分析）.
3. 要求考生熟練掌握波譜儀和能譜儀以及電子探針分析方法.

五、其它材料分析測(cè)試技術(shù)
1. 要求考生了解XPS分析、俄歇電子能譜分析、原子探針顯微分析.
2. 要求考生了解核磁共振、電子自旋共振技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用.
3. 要求考生了解熱分析技術(shù)

考試總分：100分考試時(shí)間：2小時(shí) 考試方式：筆試
考試題型：計(jì)算題
證明題
簡(jiǎn)答題
綜合題

參考書目

哈爾濱工程大學(xué)

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