華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:劉玉榮

發(fā)布時間:2021-10-26 編輯:考研派小莉 推薦訪問:
華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:劉玉榮

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華南理工大學(xué)大學(xué)電子與信息學(xué)院導(dǎo)師:劉玉榮 正文


  姓名:劉玉榮   性別:男   職稱:副教授  
  學(xué)院:電子與信息學(xué)院   最后學(xué)歷:博士
  主要研究方向:薄膜信息器件及集成技術(shù)

  劉玉榮(1968.04-),男,漢族;博士,副教授,碩士導(dǎo)師。1991年畢業(yè)于江西大學(xué)(現(xiàn)南昌大學(xué))半導(dǎo)體物理專業(yè),1996年7月獲四川大學(xué)凝聚態(tài)物理碩士學(xué)位,2007年6月獲華南理工大學(xué)微電子學(xué)與固體電子學(xué)工學(xué)博士學(xué)位。1996年7月至今在華南理工大學(xué)微電子專業(yè)從事教學(xué)與科研工作,其間多次應(yīng)邀到香港大學(xué)電機電子工程系進行學(xué)術(shù)訪問研究。先后參與多項國家級、省部級及橫向科研項目研究,現(xiàn)正主持一項國家自然科學(xué)基金項目和一項廣東省自然科學(xué)基金博士啟動基金項目。已在國內(nèi)、外重要刊物發(fā)表科研論文三十多篇,其中被SCI、EI、ISTP收錄20多篇。目前的研究領(lǐng)域主要包括:基于氧化物材料、有機高分子材料的薄膜晶體管器件及光電集成技術(shù),薄膜晶體管(TFT)器件建模與仿真,薄膜傳感器及集成技術(shù),半導(dǎo)體器件可靠性。

  近期代表性SCI論文:
  (1) Y.R. Liu, L.F. Deng, R.H. Yao, and P.T. Lai, Low-Operating-Voltage Polymer Thin-Film Transistors Based on Poly(3-Hexylthiophene) With Hafnium Oxide as the Gate Dielectric, IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, Vol. 10, N0. 2, JUN., 2010.
  (2) 劉玉榮,王智欣,虞佳樂,徐海紅,高遷移率聚合物薄膜晶體管,物理學(xué)報(ACTA PHYSICA CINICA), 59 (12), pp. 8566-8570. Dec., 2009.
  (3) Liu Y R, Wu L M, Lai P T, and Zuo Q Y, Air-stability analysis and improvement of poly(3-hexylthiophene) field-effect transistors[J]. Semicond. Sci. Technol., 2009, 24: 095013.
  (4) Y.R. Liu, J.B. Peng, P.T. Lai, Photo-response of polymer thin-film transistors based on poly(2-methoxy-5-(2'-ethyl-hexyloxy)-1,4-phenylene vinylene), Thin Solid Films,2008,51: 64295–4300.
  (5) Y.R. Liu,J.B. Peng,P.T. Lai.Modelling the threshold-voltage shift of polymer thin-film transistors under constant and variable gate-bias stresses.Semicond. Sci. Technol.,2007, 22(3): 259-262.
  (6) Y.R. Liu,J.B. Peng,P.T. Lai,et al.Degradation characteristics and light-induced effects of polymer thin-film transistors.Thin Solid Films.2007,515    (11):4808 -4811.
  (7) Yurong Liu, Junbiao Peng, P.T. Lai, Stability of polymer thin-film transistors based on poly(2-methoxy-5-(2’-ethyl- hexyloxy)-1,4-phenylene vinylene),Applied Surface science,2007,253 (17): 6987-6991.
 

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