科目現(xiàn)代分析方法代碼915

第一章 X射線的性質  Ｘ射線定義；波長范圍；X射線的本質屬性（波粒二相性）；X射線波動方程；X射線能量與動量表達式及式中各參數(shù)物理意義 第二章 X射線的衍射方向  14種布喇菲點陣；晶向指數(shù)和晶面指數(shù)定義及確定；簡單點陣的晶面間距公式布拉格方程的推導及物理意義；布拉格角及衍射角的定義；布拉格方程的簡化；衍射級數(shù)的概念；布拉格方程的討論；布拉格方程的應用；三種不同晶體X射線衍射的基本原理、應用及異同點的對比； 第三章 X射線的衍射強度  X射線在晶體中衍射的概念；結構因數(shù)表達式及其物理意義；由同類原子組成的簡單點陣、體心點陣、面心點陣結構因數(shù)的指導及消光規(guī)律；洛倫茲因素的物理意義；洛倫茲因素考慮的三種衍射幾何條件及其物理意義；影響衍射的其它因數(shù)的種類及定義；多晶衍射強度表達公式及其各參數(shù)的物理意義； 第四章 多晶體分析方法  德拜相機的構造和基本工作原理；德拜相機中底片的安裝方法及各種方法的優(yōu)缺點；德拜照相法中的誤差修正方法；利用德拜照相法結果標定晶體結構的基本過程；對稱聚集照相法的工作原理；平板照相法的工作原理；德拜、對稱聚集和平板照相三種方法的異同點、優(yōu)缺點對比；晶體單色器；X射線衍射儀基本結構及工作原理； 第五章 物相分析及點陣參數(shù)精確測定  5.1定性分析 了解Ｘ射線衍射法定性分析的基本原理及JCPDS卡片的組成 5.2定量分析  了解Ｘ射線定量分析的基本過程及可能遇到的困難。 5.3點陣參數(shù)的精確測定  了解Ｘ射線法精確測定點陣參數(shù)過程中誤差的主要來源及對誤差進行修正的圖解外推法、最小二乘法和標準樣校正法的基本原理。  定性分析基本原理；PDF卡片的內容；定性分析基本過程；定量分析基本原理；定量分析單線條法、內標法、K值法及參比強度法基本原理；點陣參數(shù)精確確定過程的誤差來源、圖解外推和最小二乘法基本原理；標準樣品校準法基本原理； 第六章 電子光學基礎  6.1電子波與電磁透鏡  了解電子波的基本特性及電磁透鏡的基本組成及工作原理。 6.2 電磁透鏡的像差與分辨本領  了解球差、像散和色差三種不同像差產生的基本原理，理解衍射效應和像差對電磁透鏡分辨率的影響。 6.3 電磁透鏡的景深和焦長  了解電磁透鏡景深和焦長物理含義及對二者的影響因素。 考試內容范圍說明：光學顯微鏡分辨率極限；電子波波長特征；電磁透鏡的基本結構；電子在電磁透鏡中運動軌跡分析；電磁透鏡的焦距及放大倍數(shù)確定；影響電磁透鏡焦距的因素；像差分類及各類像差影響因素、消除方法；分辨率定義；決定電磁透鏡分辨率的因素；電磁透鏡的景深和焦長定義及其物理意義； 第七章 透射電子顯微鏡  7.1透射電子顯微鏡的結構和成像原理  了解透射電子顯微鏡的基本結構及成像原理。 7.2 主要部件的結構和工作原理  了解樣品臺、電子束傾斜與平移裝置、消像散器和光闌的基本結構及工作原理 7.3透射電子顯微鏡分辨本領和放大倍數(shù)的測定  了解決定透射電子顯微鏡分辨率的主要因素和測定其放大倍數(shù)的基本方法。 考試內容范圍說明：透射電子顯微鏡的基本結構及成像原理；成像操作與電子衍射操作的異同；主要部件：樣品平衡與傾斜裝置、樣品臺、光闌、消像散器的結構及工作原理；透射電子顯微鏡分辨率的分辨率定義、分類；放大倍數(shù)確定方法； 第八章 電子衍射  8.1概述  了解電子衍射與Ｘ射線衍射的差別。  8.2電子衍射原理  理解倒易點陣基本概念及愛瓦爾德圖解法基本原理，掌握晶帶定理及其應用電子衍射的基本原理， 8.3電子顯微鏡中的電子衍射  了解決定電子衍射產生的主要因素。 8.4單晶體電子衍射花樣標定  理解已知和未知晶體結構單晶衍射花樣的標定方法。 8.5復雜電子衍射花樣  了解復雜電子衍射花樣的標定的主要過程。  考試內容范圍說明：電子衍射與X射線衍射異同；倒易點陣的性質；愛瓦爾德球圖解法推導布拉格方程；倒易點陣的擴展及其對電子衍射的影響；電子衍射基本公式推導；有效相機常數(shù)和選區(qū)電子衍射定義；簡單晶體的電子衍射標定方法；未知晶體標定方法； 第九章 晶體薄膜衍襯成像分析  9.1概述  9.2 薄膜樣品的制備方法  了解透射薄膜樣品制備的工藝方法。 9.3衍射襯度成像原理  了解衍射襯度基本概念及利用衍射襯度成像的基本原理。 9.4消光距離  了解消光距離的基本概念。 9.5 衍襯運動學  理解衍襯運動學的基本假設、理想晶體衍射強度和衍襯運動學基本方程的推導和應用。 9.6 衍襯動力學簡介  了解運動學理論的不足之處與適用范圍和完整、不完整晶體運動學方程。 9.7晶體缺陷分析  考試內容范圍說明：金屬和陶瓷樣品薄膜樣品的制備基本要求及工藝過程；薄膜樣品的衍射襯度成像原理分析（包括明場像、暗場像和中心暗場像）；消光距離定義；衍襯運動學的基本假設；理想晶體的衍射強度； 第十章 掃描電子顯微鏡  10.1電子束與固體樣品作用時產生的信號  了解電子束與固體樣品作用時產生信號的種類、特征及應用。 10.2掃描電子顯微鏡的基本構造和工作原理  了解掃描電子顯微鏡結構和成像原理。 10.3 掃描電子顯微鏡的主要性能  了解掃描電子顯微鏡中電子與固體樣品相互作用時產生的各種信號的分辨率及放大倍數(shù)測定的主要方法。 10.4 表面形貌襯度原理及其應用  理解掃描電子顯微鏡中二次電子成像的基本原理及其在斷口分析、樣品表面形貌觀察中的應用 10.5 原子序數(shù)襯度原理及其應用  了解掃描電子顯微鏡中背散射電子、吸收電子成像的基本原理及其應用。 考試內容范圍說明：電子束與固體樣品作用時產生信號的種類、特征及應用；掃描電子顯微鏡的結構及工作原理；掃描電子顯微鏡分辨率及放大倍數(shù)的確定方法；二次電子像及背散射電子像的成像及其應用；掃描電子顯微鏡觀察用金屬及陶瓷樣品的制備方法； 第十一章 電子探針顯微分析  11.1電子探針的結構和工作原理  了解波譜儀和能譜儀的結構，理解其工作原理 11.2電子探針的分析方法及應用  了解波譜儀和能譜儀在材料微區(qū)元素分析中的應用。 考試內容范圍說明：電子探針的分類、結構及工作原理；電子探針定性分析方法的分類及應用； 第十二章 其它顯微分析方法  12.1離子探針  了解離子探針的基本工作原理及其在材料表面分析中的應用及局限性。 12.2場離子顯微鏡與原子探針  了解場離子顯微鏡的基本工作原理及其在材料分析中的應用。 12.3 掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡  了解掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡的工作原理及其在材料分析中的應用。  考試內容范圍說明：離子探針的結構及工作原理；離子探針的工作特點；離子探針的應用；場離子顯微鏡的基本工作原理及其在材料分析中的應用；掃描隧道顯微鏡與原子力顯微鏡的工作原理及其在材料分析中的應用；幾種表面微區(qū)成分分析技術的性能對比； 參考書目： 《現(xiàn)代研究方法》，周玉.機械工業(yè)出版社，2006年1月第2版

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