中國計量大學(xué)計量測試工程學(xué)院導(dǎo)師:王道檔

發(fā)布時間:2021-11-04 編輯:考研派小莉 推薦訪問:
中國計量大學(xué)計量測試工程學(xué)院導(dǎo)師:王道檔

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中國計量大學(xué)計量測試工程學(xué)院導(dǎo)師:王道檔 正文


  基本信息
  姓名:王道檔
  性別:男
  學(xué)位:博士
  職稱:講師
  一級學(xué)科:儀器科學(xué)與技術(shù)
  二級學(xué)院:計量測試工程學(xué)院
  研究方向:光電精密檢測技術(shù)
  辦公地點:仰儀北樓506
  移動電話:13588457882
  Email:wangdaodang@cjlu.edu.cn

  在研課題
  主持浙江省自然科學(xué)基金青年基金1項
  主持國家重點實驗室開放課題1項
  另有在研企業(yè)合作項目1項

  獲獎情況
  中國光學(xué)學(xué)會“王大珩光學(xué)獎”

  近期發(fā)表的主要成果
  [1]D. Wang, F. Wang, Y. Yang, et al, "Modified polarization point diffraction interferometer with extended measurable NA for spherical surface testing," Optik - International Journal for Light and Electron Optics, 2013, 124(22): 5481-5485.(SCI收錄)
  [2]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Calibration of Geometrical Systematic Error in High-Precision Spherical Surface Measurement," Opt Commun, 2011, 284(16): 3878-3885.(TOP級SCI)
  [3]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Point diffraction interferometer with adjustable fringe contrast for testing spherical surfaces," Appl Optics, 2011, 50(16): 2342-2348.(TOP級SCI)
  [4]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Misalignment Aberrations Calibration in Testing of High-Numerical-Aperture Spherical Surfaces," Appl Optics, 2011, 50(14): 2024-2031.(TOP級SCI)
  [5]D. D. Wang, Y. Y. Yang, D. Liu,et al, "High-precision technique for in-situ testing of the PZT scanner based on fringe analysis," Opt Commun, 2010, 283(16): 3115-3121.(TOP級SCI)
  [6]王道檔,楊甬英,陳曉鈺,等,“基于差分方法的高精度球面調(diào)整誤差校正,”光電子•激光,2013,24(1):127-132.(EI收錄)
  [7]王道檔,楊甬英,陳曉鈺,邵衛(wèi)紅,卓永模,“高精度球面檢測中調(diào)整誤差的精確校正,”納米技術(shù)與精密工程,2013,11(1):20-26.(EI收錄)
  [8]王道檔,楊甬英,邵衛(wèi)紅,等,“球面干涉檢測中改進的調(diào)整誤差校正方法,”浙江大學(xué)學(xué)報(工學(xué)版),2012,46(10):1932-1936.(EI收錄)
  [9]王道檔,楊甬英,陳琛,等,“點衍射球面檢測中的斜反射波前像差校正,”光學(xué)學(xué)報,2011,31(6):0612003.(EI收錄)
  [10]王道檔,楊甬英,駱永潔,等,“基于模板匹配算法的壓電微位移原位測量技術(shù),”儀器儀表學(xué)報,2010,31(3):530-535.(EI收錄)
  [11]王道檔,楊甬英,陳琛,等,“模板匹配算法在高精度壓電微位移測量中的應(yīng)用,”納米技術(shù)與精密工程,2010,8(4):374-379.(EI收錄)
  [12]D. Wang, Y. Yang, C. Chen,et al, "Polarization point-diffraction interferometer for high-precision testing of spherical surface,"SPIE, 2010:76560F.(EI收錄)

  個人簡歷
  2012年-至今 中國計量學(xué)院計量測試工程學(xué)院 教師
  2012年 中國計量科學(xué)研究院 訪問學(xué)者
  2007-2012年 浙江大學(xué)光學(xué)工程專業(yè) 博士研究生
  2003-2007年 中國計量學(xué)院測控技術(shù)與儀器專業(yè) 本科

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